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Sinton lnstruments晶圓壽命測(cè)試儀WCT-120細(xì)胞測(cè)量
瀏覽次數(shù)：291發(fā)布日期：2024-04-03

Sinton Instruments致力于開(kāi)發(fā)新的工具和分析，并將其應(yīng)用于硅太陽(yáng)能電池和集成電路的研發(fā)和制造。我們的目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的設(shè)備物理和測(cè)量的常規(guī)使用。Sinton Instruments的目標(biāo)是實(shí)施優(yōu)雅的解決方案，以應(yīng)對(duì)硅光伏的測(cè)試和測(cè)量挑戰(zhàn)。我們的儀器和分析技術(shù)針對(duì)的是重要的問(wèn)題，基于堅(jiān)實(shí)的設(shè)備物理基礎(chǔ)，并且從設(shè)計(jì)上講，對(duì)于應(yīng)用來(lái)說(shuō)具有成本效益。

Sinton Instruments主要產(chǎn)品：

硅片壽命測(cè)量系統(tǒng)、硅錠測(cè)試儀器、太陽(yáng)能電池組件測(cè)試儀

Sinton Instruments主要型號(hào)：

FCT-650、FCT-750、FMT-500、IL-800、WCT-120PL、WCT-120TS

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WCT-120PL是使用光致發(fā)光傳感器的硅片壽命測(cè)試儀。WCT-120PL硅片壽命測(cè)試工包含了WCT-120儀器的測(cè)量和分析技術(shù)的同時(shí)，又增加了光致發(fā)光(PL) 傳感器，以基于PL信號(hào)測(cè)試壽命和摻雜水平。準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)導(dǎo)(QSSPC) 壽命測(cè)試方法和瞬態(tài)光電導(dǎo)衰減壽命測(cè)試方法都增補(bǔ)了校準(zhǔn)的基于PL信號(hào)的壽命測(cè)試。也可以簡(jiǎn)單地將工具作為標(biāo)準(zhǔn)的WCT-120使用。

性能特點(diǎn)

  • 一鍵識(shí)別硅片的關(guān)鍵特性

技術(shù)參數(shù)

  • 產(chǎn)地：美國(guó)

  • 是否進(jìn)口：是

  • 壽命測(cè)量范圍：100 ns至大于10 ms

  • 測(cè)量（分析）模式：QSSPC、瞬態(tài)和廣義壽命分析

  • 傳感器區(qū)域：直徑40 mm

  • 保修：所有部件和軟件的一年有限保修

  • 標(biāo)準(zhǔn)：符合SEMI標(biāo)準(zhǔn)PV-13

  • 環(huán)境工作溫度：20°C–25°C

  • 尺寸：寬22.5厘米x深28厘米x高57厘米

  • 通用電源電壓：100–240 VAC 50/60 Hz